சுருக்கம்

ON AUTOMATIC ADJUSTMENT OF All BJTs OF A CURRENT MIRROR IN CONSTANT CURRENT REGION

Kimmi Verma, Rishikeya Mishra

The impact of tiny chip has been far-reaching. Many of the electronic products of today, could not have been developed without it. Platform for these chips has been provided by Integrated Circuits (ICs). Since 40 decades ICs have been far revolutionized. Various advancement have been made in these ICs; but still there are some conditions imposed by the designers for proper working of IC. One of such condition exist in biasing of IC. While designing the IC from Bipolar Junction Transistor (BJT), designers introduce that the collector voltage of output BJT used in biased circuit should be greater than a defined minimum value. It implies that user should check every time that whether the circuit is following the specified condition or not. The proposed biasing circuit design in this paper has no such condition and the user will get much freedom.

மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை

ஜர்னல் ஹைலைட்ஸ்

அடாப்டிவ் சிக்னல் செயலாக்கம் அடிப்படை மின் பொறியியல் ஆப்டிகல் கம்யூனிகேஷன் ஒத்திசைவற்ற இயந்திரங்கள் கட்டுப்பாட்டு கோட்பாடு மற்றும் பயன்பாடு குறைக்கடத்தி தொழில்நுட்பம் சுமைகள் மற்றும் மின் ஆற்றல் மாற்றியின் மின் மற்றும் சுரண்டல் பண்புகள் செயற்கை நுண்ணறிவு மற்றும் மின் பொறியியல் பயன்பாடு செயற்கைக்கோள் தொடர்பு டிஜிட்டல் சிக்னல் செயலாக்கம் நோய் கண்டறிதல் மற்றும் உணர்தல் அமைப்புகள் பயோ எலக்ட்ரானிக்ஸ் பவர் எலக்ட்ரானிக் மாற்றிகளின் பகுப்பாய்வு மின் இயந்திரங்கள் மின் தரம் மற்றும் விநியோகச் செலவு ஆகியவற்றின் பொருளாதார அம்சங்கள் மின்காந்த டிரான்சியன்ட்ஸ் புரோகிராம்கள் (EMTP) மின்சார இயக்கிகள் மற்றும் பயன்பாடு மின்னணு பொருட்கள் மின்னணுவியலில் செயற்கை நுண்ணறிவு வயர்லெஸ் நெட்வொர்க்கிங்

குறியிடப்பட்டது

கல்வி விசைகள்
ஆராய்ச்சி பைபிள்
CiteFactor
காஸ்மோஸ் IF
RefSeek
ஹம்டார்ட் பல்கலைக்கழகம்
அறிஞர்
சர்வதேச புதுமையான இதழ் தாக்க காரணி (IIJIF)
சர்வதேச அமைப்பு ஆராய்ச்சி நிறுவனம் (I2OR)
காஸ்மோஸ்

மேலும் பார்க்க