சுருக்கம்

Characteristic Comparison and Improvement of 3D Multi Gate FINFETS

Sunil Kumar Sahoo , Ashraf Hossain

In this paper the characteristic parameters such as threshold voltage, drain currents (ION and IOFF), sub threshold slope of 3-Dimensional SOI Double Gate FINFET, Tri- gate FINFET and Independent Gate FINFET are evaluated with the help of TCAD. Drain currents are optimized by using high-K dielectric and analyzed over different gate lengths. The threshold voltage of these three devices are analyzed using various gate materials of different work functions consequently minimize the short channel effects. It also highlights the electrostatic control on channel by increasing the number of gates.

மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை

குறியிடப்பட்டது

கல்வி விசைகள்
ஆராய்ச்சி பைபிள்
CiteFactor
காஸ்மோஸ் IF
RefSeek
ஹம்டார்ட் பல்கலைக்கழகம்
அறிவியல் இதழ்களின் உலக பட்டியல்
அறிஞர்
சர்வதேச புதுமையான இதழ் தாக்க காரணி (IIJIF)
சர்வதேச அமைப்பு ஆராய்ச்சி நிறுவனம் (I2OR)
காஸ்மோஸ்

மேலும் பார்க்க